角分辨光譜測量的測試結果能力的分辨
　　
　　角分辨光譜測量儀是用于探測具備“角度依賴(angle-resolved)”特性物體的光學測量儀器。為了驗證他的準確性，我們采用標準樣品進行檢驗。

　　SiO2鍍膜Si基底樣品是一種具有典型“角度依賴”反射率特性的樣品，可以作為一種常見的標準樣品，常常用來檢光譜型測橢偏儀的性能。因此，我們采用了單層膜結構的鍍膜樣品作為驗證的標樣。
　　
　　測試結果證明實用R1測試單層膜的P波和S波與理論計算結果吻合。
　　
　　單層膜樣品的光譜反射率理論計算簡單，實際測量中，測試系統要求具備寬譜段覆蓋范圍(紫外到近紅外)；方便的偏振態控制；背反射(0度角)；高精度的角度控制等要求。以往情況，用戶需要采用昂貴的光譜型橢偏儀實現，現在可以采用R1可以輕松的實現這些功能。
　　
　　角分辨光譜測量的典型應用領域：
　　
　　角分辨光譜測量的樣品在不同偏振態具有不同光譜特性，需要光譜測量系統具有各偏振的分辨能力。
　　
　　薄膜光譜樣品具有能帶結構，呈現光譜的各向異性，需要光譜測試系統具有精確的角度區分能力。
　　
　　SPP/SPR表面等離子體具有敏感的光譜和角度依賴，需要光譜測試系統具有寬泛的光譜測量波段，和精確的角度分辨能力。
　　
　　高集成度
　　
　　可滿足多模式、全角度、寬譜段的角分辨光譜測試需求，具有超高性價比
　　
　　良好的擴展性
　　
　　適配多波段偏振器件、濾光片等光學元件，可加載旋轉調節支架，方便調節
　　
　　自由調節樣品臺
　　
　　五維精密調節樣品臺，能夠對樣品實現各種維度的精確調節