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        • 透射與反射測量支架

          ProSp-STAGE-RT透反射測量支架,由底座、高精密滑軌、載物臺、精密位移臺和2個準直透鏡組成。這個支架可以測量固體樣品的透反射光譜,也可以測量固體、粉末樣品的熒光光譜(配套熒光探頭)。對于反射光譜,可以實現上反射和下反射測量。測量距離可以調節,以適應不同厚度的樣品

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