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        • 角分辨光譜測量臺 ProSp‐RTM‐UV/VIS

          ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統,搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀,通過對入射和接收兩臂的角度控制,實現材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領域發揮作用, 如微納結構材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 測量方式有:反射光譜測量(上反射和下反射)、透射光譜測量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統自動完成,我們僅需要選擇測量方式、設置測量參數,調整樣品位置即可。系統也支持手動測量方式,即我們可以把入射臂和接收臂,運行到任意的角度位置進行光譜測量。

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