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ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領域發揮作用， 如微納結構材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 測量方式有：反射光譜測量（上反射和下反射）、透射光譜測量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統自動完成，我們僅需要選擇測量方式、設置測量參數，調整樣品位置即可。系統也支持手動測量方式，即我們可以把入射臂和接收臂，運行到任意的角度位置進行光譜測量。
